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  • PCT加速老化試驗機
    PCT加速老化試驗機

    PCT加速老化試驗機主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。

    時間：2024-05-21瀏覽量：3596
  • PCT高壓壽命試驗機
    PCT高壓壽命試驗機

    PCT高壓壽命試驗機主要作用是用來測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體.

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